2005. Ano 2 . Edição 14 - 1/9/2005

Engenheiros da Universidade Wisconsin-Madison, nos Estados Unidos, criaram um microscópio capaz de visualizar cada átomo individualmente nos materiais utilizados para fabricação de chips. Pela primeira vez, a indústria vai mapear, um por um, os átomos que compõem um circuito e precisar suas características. Atualmente, esse levantamento é feito por tentativa e erro, simplesmente descartando os materiais que não respondem devidamente, sem que se saiba o motivo. "Antes, quando os semicondutores tinham dimensões de 1.000 a 2.000 nanômetros, um desvio de 20 a 30 nanômetros resultava em um erro de apenas 2%", explica Keith Thompson, um dos cientistas do projeto. "Agora, com características de dimensões entre 30 e 40 nanômetros, mesmo 10 nanômetros de desvio representam um erro de 25% a 30%." O novo aparelho será comercializado pela Imago Scientific Instruments, uma emergente do setor de tecnologia.